2026年1月7日，韩国科学技术院助理教授Kim Jisoo博士应邀访问我系并做客第550期“工物学术论坛”。本次论坛中，Kim博士面向全系师生作了题为“揭示隐蔽微观结构——基于X射线散射张量成像的材料表征”的学术报告。本次学术论坛由王振天副教授主持。

复杂材料的微观结构成像长期受限于传统X射线显微镜与显微CT在分辨率、对比度与视场之间的权衡。Kim博士系统介绍了X射线散射张量成像技术（XSTT），该技术利用各向异性小角X射线散射，能够在厘米级样品中逐体素重建亚像素微观结构的取向、各向异性程度与密度，从而突破传统成像的局限。Kim博士进一步阐述了基于螺旋轨迹与全向散射成像的数据采集方案，以及基于滤波的快速重建算法，还展示了XSTT在纤维增强复合材料定量力学性能预测中的应用，并展望了实验室级XSTT系统的实现路径，以及该技术在学术与工业场景中的集成前景。

报告结束后，Kim博士与在场师生进行了深入交流与讨论。这次活动受到了工物系的支持，促进了工物系在先进X射线成像与材料表征领域的前沿学术交流，为相关研究方向提供了新的方法与思路。