12月20日，上海联影医疗科技股份有限公司高级研究员杨翊蓉应邀访问我系并做客第518期“工物学术论坛”。杨翊蓉研究员面向我系师生做了题为“如何利用光子计数CT的光谱信息(Utilizing Spectral Information from Photon Counting CT)”的学术报告。

学术论坛现场

本次学术论坛由XTIPS实验室高河伟副教授主持，共计20多名师生参加了本次报告。杨翊蓉研究员针对光子计数探测器CT从用于数据压缩的能窗加权合并、用于提升图像域CNR的能窗加权合并以及使用激光打印机制作人体CT模体三个方面深入浅出地为我们讲解在光子计数探测器光谱信息利用方面所进行的研究工作，展示了这些工作的实际价值和未来前景，引起了在场师生们的深入交流和讨论。报告氛围轻松热烈，取得了很好的效果。

上海联影医疗科技股份有限公司高级研究员杨翊蓉作报告

注：

杨翊蓉研究员于2019年毕业于清华大学工程物理系，获得工学学士学位，并于2024年在斯坦福大学电子工程系（Electrical Engineering）获得博士学位。在攻读博士期间，杨翊蓉在放射学系（Department of Radiology）的辐射科学实验室(Radiological Sciences Laboratory,RSL) 工作，师从博士导师Adam Wang教授。