5月16日，美国西格瑞(SigRay Inc.)公司高级科学家昝贵彬博士应邀访问我系并做客第452期“工物学术论坛”。昝贵彬博士面向全系师生作了题为“应用于电池研究和生物医学的现代X射线成像技术(Modern X-ray technologies for battery research and biomedical sciences)”的学术报告。本次学术论坛由王振天副教授主持，大约20名师生参加。

昝贵彬博士详细介绍了X射线成像及分析领域的前沿技术及发展现状，展示了引领X射线分析领域技术发展的SigRay公司近几年在核心器件、分析设备等方面的最近进展和成果。昝贵彬博士着重介绍了结合同步辐射和实验室光源各自优势进行X射线成像及分析的应用进展，特别是在前沿的电池研究领域的突破性技术发展及最新的研究结果。

会议过程中，昝博士与参会的同学老师进行了热烈的讨论，进行了充分有效的交流。这次活动受到了工物系的支持，促进了工物系在辐射成像领域与国际先进团队的交流与合作。

昝贵彬博士作报告