4月10日，美国新墨西哥大学（The University of New Mexico）教授Dave应邀访问我系并做客第267期“工物学术论坛”。Dave教授面向全系师生作了题为“使用拓扑方法研究电磁场效应及其控制”（Electromagnetic (EM) Effects and its Control Using Topological Concepts）的学术报告。本次学术论坛由孟萃副教授主持，有10余名师生参加。

在报告中，Dave教授从实验研究讲起，介绍了从电子元器件级、集成电路（IC）级到芯片级、系统级的各种电磁脉冲效应及其阈值，包括战舰、飞机等系统因为电磁干扰而引发严重事故的实例，并用电磁拓扑的方法从理论上对系统级电磁场效应及其控制的问题进行了研究。

结合自身多年从事电磁场相关研究的经验，Dave教授就电磁场效应实验、D-Dot电场传感器的制作和准确校准工作与参加报告的师生进行了热烈讨论，为相关研究问题的解决提供了帮助。