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清华大学与同方威视共同申请的CT专利获北京市发明专利奖一等奖
发布时间:2019-03-04

 2019年2月27日,北京市第五届发明专利奖颁奖仪式在北京会议中心举办。清华大学与同方威视共同申请的专利“CT系统和用于CT系统的探测装置”获本届发明专利奖一等奖。北京市副市长隋振江、国家知识产权局副局长贺化、北京市知识产权局党组书记杨东起等领导出席会议并讲话,高级副总裁陈伟代表同方威视领奖。

本获奖专利“CT系统和用于CT系统的探测装置”首创高低能排间距的差别化设计,实现了高低能排向异性的双能探测器结构和基于该结构的高速双能CT检查系统。基于本专利技术,同方威视在国内外首次提出了基于新型探测器结构的双能安检CT成像技术,形成了具有自主知识产权的新一代X射线双能CT安检成像系统,并成功研制出多款应用于民航、海关以及检验检疫等领域的CT安检成像系统。

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北京市发明专利奖是北京市政府设立的重要奖项,设置该奖项的目的是发挥政府主导作用,鼓励创新主体的创新成果及时取得专利权,提高发明专利质量。第五届北京市发明专利奖共评选出获奖项目36项,其中特等奖1项、一等奖5项、二等奖10项、三等奖20项。


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